Сборники тезисов • Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Выпуск 2 • НАНОМАТЕРИАЛЫ, НАНОСТРУКТУРЫ, НАНОТЕХНОЛОГИИ
РЕАЛИЗАЦИЯ PEAKFORCE TAPPING С КОМПЕНСАЦИЕЙ ЭФФЕКТА ПЛУГА ДЛЯ КОЛИЧЕСТВЕННОЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
УДК: 531/534
Аннотация:
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) успешно применяется для исследования нано- и
микрообъектов как в жидкой среде, так и на воздухе [1, 2]. В последнее время особенный
интерес привлекают исследования живых биологических клеток [3]. В таких исследованиях
требуется минимизировать уровень воздействия АСМ, без нанесения ущерба оперативности
и информативности измерений. Наиболее передовым, с этой точки зрения, представляется
АСМ метод PeakForce Tapping, активно продвигаемый на рынок компанией Bruker [4]. Он
позволяет одновременно детектировать распределения таких локальных свойств поверхности
как рельеф, адгезия, модуль Юнга и др., при этом за счет контроля прилагаемых к объекту
сил позволяет не разрушать при сканировании даже мягкие объекты.