Сборники тезисов • Фотоника, наноматериалы и оптотехника • Оптико-электронное приборостроение
Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Электронное издание. – СПб: Университет ИТМО, 2015.
Анализ отраженных сигналов при измерении наклонной дальности
УДК: 535:631.373.826
Аннотация:
При измерении наклонной дальности отражательные свойства поверхности в общем случае определяются либо отражательной передаточной функцией, либо отражательной импульсной характеристикой поверхности. В работе разработана программа определения отражательной импульсной характеристики сложной структуры подстилающей поверхности в условиях отсутствия и наличия цели. Даны отражательные импульсные характеристики таких поверхностей и отражательных сигналов. Анализ отраженных сигналов показал, что в условиях сложной структуры подстилающей поверхности идентифицировать цели, практически не представленная возможным по отражательному сигналу.